近日，在江蘇省揚州市召開了由上海硅酸鹽所承擔(dān)起草的《熱釋電材料介電常數(shù)的測試方法》、《熱釋電材料熱釋電常數(shù)的測試方法》、《熱釋電材料居里溫度TC的測試方法》和《熱釋電材料介質(zhì)損耗角正切tanδ的測試方法》四項國家標(biāo)準(zhǔn)修訂工作的審定會。中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所、中科院上海技術(shù)物理研究所、中科院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所、同濟大學(xué)、中山大學(xué)、華東師范大學(xué)、海鷹企業(yè)集團公司、浙江嘉康電子股份有限公司、江蘇江佳電子股份有限公司等單位的專家和代表出席了審定會。
與會專家對上海硅酸鹽所提交的各個文件進行了認真、細致的評審，認為標(biāo)準(zhǔn)起草小組提交的文件齊全，標(biāo)準(zhǔn)的編寫格式符合GB/T1.1-2000的編寫要求，標(biāo)準(zhǔn)制定依據(jù)充分、科學(xué)，檢驗方法先進、合理。與會專家一致認為"熱釋電材料介電常數(shù)的測試方法"等四項國家標(biāo)準(zhǔn)通過審定，形成報批稿，報送上級部門備案。
