根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化工作的總體安排，現(xiàn)將申請(qǐng)立項(xiàng)的《電真空器件用鎳及鎳合金光譜分析方法》等124項(xiàng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，《發(fā)光二極管芯片點(diǎn)測(cè)方法》等42項(xiàng)電子國家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃項(xiàng)目予以公示（見附件1、2），截止日期為11月15日。如對(duì)擬立項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目有不同意見，請(qǐng)?jiān)诠�示期間填寫《標(biāo)準(zhǔn)立項(xiàng)反饋意見表》（見附件3）并反饋至我司，電子郵件發(fā)送至KJBZ@miit.gov.cn（郵件主題注明：工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)立項(xiàng)公示反饋）。


　　地址：北京市萬壽路27號(hào)工業(yè)和信息化部科技司標(biāo)準(zhǔn)處


　　郵編：100846


　　聯(lián)系電話：010-68205230


　　附件1.《電真空器件用鎳及鎳合金光譜分析方法》等 124項(xiàng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)制修訂計(jì)劃（征求意見稿）.doc


　　附件2.《發(fā)光二極管芯片點(diǎn)測(cè)方法》等42項(xiàng) 國家標(biāo)準(zhǔn)制修訂計(jì)劃（征求意見稿）.doc

 

　　附件3.標(biāo)準(zhǔn)立項(xiàng)反饋意見表.doc

 

　　工業(yè)和信息化部科技司


　　2013年11月1日
 

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